|
题名:
|
半导体器件可靠性与失效分析 / 卢其庆,张安康编 , |
|
ISBN:
|
15196.054 价格： 1.7 |
|
语种:
|
CHI |
|
载体形态:
|
41 |
|
出版发行:
|
出版地： 出版社： 江苏科学技术出版社 出版日期： 1981 |
|
中图分类法:
|
TN306/2140 版次： |